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edx和eds元素分析区别下载_eds元素对照表(2024年11月测评)

内容来源：北京东为网络所属栏目：新闻更新日期：2024-11-29

edx和eds元素分析区别

𐟔 EDX与EDS：元素分析的两大技术在电子显微镜分析中，EDX（能量色散X射线光谱法）和EDS（能量色散光谱法）是两种常用的元素分析技术。它们都依赖于能量分散来检测样品中不同元素的特征X射线，从而确定元素的分布和含量。EDX通常安装在扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM/STEM）上，而EDS则更多地与EPMA（电子探针微分析）系统结合使用。 𐟔젅DX与EDS的关键区别 EDX：主要用于SEM和TEM/STEM，通过设置X射线能谱的能量范围窗口，再使用电子束扫描样品，可以获得元素分布图。安装在SEM上时，由于加速电压较低，样品较厚，特征X射线会在样品中扩散，分辨率约为0.1um。 EDS：通常与EPMA系统结合使用，通过波长色散进行分光，适用于LSI失效分析。除非电子束量很大，否则难以检测到特征X射线。 𐟔砧麩—𔥈†辨率的差异安装在SEM上时，由于加速电压较低，样品较厚，特征X射线会在样品中扩散，分辨率约为0.1um。安装在STEM上时，样品薄至100nm左右，且电子束的加速电压高达200~300kV，因此电子束几乎不会在样品中扩散，横向分辨率可达nm量级。 𐟓Š 元素分布图的对比图2.51展示了EDX安装在SEM和STEM上的元素分布图对比。（a）是STEM下的As（砷）的EDX图像，显示了在MOS晶体管剖面中As的分布。（b）是SEM下的Cu的EDX图像，揭示了Cu通过电化学迁移枝晶生长引起的漏电故障。通过这些技术，研究人员能够更深入地了解材料和器件的微观结构和失效机制，从而进行更有效的设计和改进。

𐟌Ÿ如何利用SEM扫描电镜进行深入分析？ SEM扫描电镜分析是通过电子束与样品表面的相互作用，收集并分析产生的信号，如二次电子、背散射电子和特征X射线，从而获取样品的表面形貌、结构和成分信息。以下是具体分析方法： 𐟔 二次电子成像：二次电子是样品表面逸出的外层电子，对样品表面的形貌非常敏感，能够提供高分辨率的表面形貌信息。 𐟔砨ƒŒ散射电子成像：背散射电子是入射电子被样品表面原子反射回来的电子，其产额与样品的原子序数有关，因此可以用于成分分析。背散射电子成像能够提供样品表面的原子序数衬度，从而分析样品的元素分布和组成。 𐟔젧‰𙥾X射线能谱分析（EDS）：当高能电子束轰击样品时，样品原子内层电子被激发，外层电子跃迁填补空位时释放的能量以特征X射线的形式发射出来。特征X射线的能量是元素特定的，通过分析特征X射线的能量和强度，可以确定样品的元素组成和相对含量。 𐟔„ 综合分析：结合二次电子、背散射电子成像和特征X射线能谱分析，可以对样品的表面形貌、元素分布和成分进行综合分析。这种方法在材料科学、地质学、生物学等多个领域有着广泛的应用。在进行SEM分析时，样品的制备和处理也是非常重要的步骤，包括样品的干燥、导电性处理（如镀金），以及根据样品的特性选择合适的制备方法（如液氮脆断、离子切割等），以确保分析结果的准确性和可靠性。

扫描电子显微镜与X射线能谱仪的区别 𐟔 探索微观世界的奥秘，我们离不开强大的工具——扫描电子显微镜（SEM）和X射线能谱仪（EDS）。这两种技术各自有着独特的优势，让我们一起来了解它们在科学研究中的重要作用吧！首先，让我们聚焦于SEM，这个微小的样品探秘专家。SEM不仅能够捕捉到样品表面的高清图像，还能揭示出元素的分布情况。它的高倍放大功能，就像是给我们提供了一双超级显微镜眼睛，让我们能够洞察秋毫，观察到样品最微小的细节。𐟑€ 而且，SEM还具备强大的电子探针功能，可以与EDS或俄歇电子能谱（AES）携手合作，进一步揭示微区内的元素组成。这种组合就像是一个高效的侦探团队，各自发挥专长，共同解开样品的神秘面纱。𐟕𕯸‍♂️𐟕𕯸‍♀️ 当我们面对SEM和EDS的结果时，如何进行解读呢？这里有个实用的建议：先从SEM图像开始，了解样品的表面形貌和特征；然后结合EDS数据，分析微区内的元素组成和分布。这样一来，我们就能对样品的成分和结构有一个全面的认识。𐟓Š 举个例子来说，假设我们拿到一个金属样品的SEM图像和EDS数据。通过SEM图像，我们可以观察到样品表面的微观结构，比如是否存在裂纹或孔洞；而EDS数据则能告诉我们这些区域包含了哪些元素，以及它们的分布情况。通过这些信息，我们就能更准确地评估这个金属样品的性能和质量。𐟔犊总之，SEM和EDS这对黄金搭档在科学研究中发挥着至关重要的作用。它们就像是我们的利剑和盾牌，帮助我们在探索微观世界的道路上更加得心应手。下次当你面对这两种技术的结果时，不妨试试上述的解读方法，看看你能发现什么新奇的东西吧！𐟌Ÿ

TEM测试送样指南及功能介绍 𐟓栩€样须知粉末样品：5mg 液体样品：0.5ml 不含易分解的有机物质不含有毒有害物质含有硫S单质样品无法拍摄若样品容易变质需要指明液体样品请指明溶剂多数分子筛不稳定，晶格条纹拍摄效果差碳点和量子点样品尺寸小，拍摄效果与样品质量关系大样品拍摄图片数量：TEM约10张，HRTEM约15张能谱和衍射原则上只做一个区域，多个区域需额外收费含铁、钴、镍、锰、钌等磁性元素的样品定义为磁性样品不能被强磁铁吸引的样品为弱磁样品，能被强磁铁吸引的样品为强磁样品请仔细检查样品磁性，隐瞒信息导致仪器损坏需承担全部责任磁性样品需送原始粉末样品，方便制样老师检查样品磁性纯有机样品在200kV电子束作用下不稳定，会分解，建议使用低电压透射电镜 𐟔 功能介绍主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等成像方式：衍衬像、高分辦像（HRTEM）、扫描透射像微区成分分析：EDS能谱的点、线和面分析，电子选区衍射

电池截面分析，揭秘电性能在新能源电池的研究中，锂离子电池正极极片的内部结构和性能至关重要。𐟔砩€š过观察和分析正极极片的截面形貌，可以深入了解电池循环后的变化，以及这些变化如何影响电化学性能。𐟔슊𐟌ˆ 氩离子抛光技术是一种有效的样品制备方法，它通过高速氩离子束轰击样品表面，使表面在微观尺度上变得平整和光滑。这种方法避免了机械切割可能带来的物理损伤，提供了更高的分辨率和准确性。𐟌Ÿ 𐟔�‰릏电子显微镜（SEM）是观察样品内部结构的重要工具。通过SEM测试，可以观察到正极极片的不同成分厚度，以及它们与能谱mapping测试结果的关联。𐟔犊𐟔젨ƒ𝨰𑭡pping测试则是利用EDS技术，检测样品中包含的各种元素，例如锂、镍、铅等，从而提供关于正极极片成分和分布的更多信息。𐟔 𐟓 在进行这些分析时，需要注意以下几点：样品不需要喷金处理。电压不能太高。易氧化样品需要结合真空制样和真空转移。拆解电池极片需要在干房中进行，包括浸泡和真空转移等步骤。通过这些步骤，我们可以更好地理解正极极片的结构和性能，为锂离子电池的优化提供重要的参考。𐟔‹

透射电子显微镜：探秘微观透射电子显微镜（TEM）是一种利用电子束穿透样品来形成图像的电子显微镜。以下是它的基本工作原理和特点：电子源：TEM使用高能电子枪产生电子束，这些电子束通过透镜被聚焦成细束。样品制备：为了使电子能够穿透样品，样品通常被稀释到大约100纳米或更薄。标本台：稀释后的样品被放置在TEM柱的台上，TEM柱是显微镜的主要组成部分。电子传输：电子束穿过变薄的样品，与样品中的原子和电子相互作用。部分电子通过样品传输，而另一些则被散射或吸收。成像：传输的电子被探测器收集，如CCD相机，从而创建样品的图像。图像中每个点的电子强度反映了样品中原子和电子的分布，提供了关于样品结构和组成的信息。图像分析：通过软件工具可以进一步分析图像，提取原子排列、晶体结构和化学成分等信息。 TEM能够产生高分辨率的图像，并提供关于样品结构的详细信息，广泛应用于材料科学、生物学和半导体研究。它还可以与其他技术结合使用，如能量色散x射线能谱（EDS）或电子能量损失能谱（EELS），以提供关于样品的额外信息，如化学成分和元素映射。然而，TEM的一个重要限制是对薄样品的要求，因为电子束只能穿透足够薄的样品。这种限制也使得TEM非常适合分析非常小的特征，如单个蛋白质或纳米级材料。总之，TEM是一种强大而通用的材料结构分析和表征工具，可以提供高分辨率图像和关于样品结构、成分和性能的详细信息。由于能够处理广泛的样品，并与其他技术相结合，它在材料科学和生物学领域的研究中具有重要意义。

透射电子显微镜（TEM）全解析透射电子显微镜（TEM）是一种高分辨率的电子显微镜技术，主要用于观察材料的微观结构和成分。以下是TEM测试的几种常见目的：观察晶体结构 𐟔 TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构，包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。分析材料成分 𐟔슔EM可以通过能谱分析技术（EDS）或电子能量损失谱（EELS）分析材料的成分，包括元素的种类和含量。研究材料形貌和尺寸 𐟓 TEM可以观察材料的形貌和尺寸，包括颗粒的形状、大小和分布等信息。探索材料界面和反应 𐟌 TEM可以观察材料的界面结构和界面反应，包括晶界、相界和界面反应产物等。样品要求 𐟓‹ 使用电压：200KV/300KV 样品类型：粉体、液体可测试，薄膜或块状样品需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）。样品厚度：不超过100nm，如果颗粒稍大，可做FIB减薄或其他方法至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）。制样载网：普通碳膜适用于低倍材料或生物样品；超薄适用于量子点、小颗粒等尺寸较小材料；微栅适用于500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网适用于含Cu样品能谱采集。放射性元素：如果样品中含有U或其他放射性元素，一定要沟通确认是否可测！磁性样品：要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样，请务必仔细检查自己的样品。希望这些信息能帮助大家更好地了解TEM测试，祝各位科研顺利！

透射电镜制样指南：从样品到观察嘿，大家好！今天我们来聊聊透射电镜（TEM）制样的那些事儿。透射电镜可是个宝贝，能帮你看到材料内部的秘密，像普通形貌、HRTEM、EDS点/线/Mapping、选区衍射、STEM/HAADF等等，简直无所不能。不过，要想从透射电镜里看到漂亮的图像，样品的准备可是关键。样品要求 𐟓 首先，样品的状态有很多种，粉末、块状、薄膜、液体都可以测试。但要注意，块状和薄膜样品不能直接拍摄，需要经过一些处理，比如离子减薄、包埋切片、FIB等，让样品的厚度不超过100nm。一般来说，普通铜网或微栅铜网就足够了，如果颗粒直径小于10nm，那就得用超薄碳膜了。如果样品中含有Cu元素，还需要拍摄EDS能谱和Mapping，这时候可以选择镍网或钼网。溶剂选择 𐟒犥𘸧”觚„溶剂是乙醇，其次是水。乙醇容易挥发，而且不会在碳膜上留下痕迹。其他溶剂可能会在碳膜上留下印迹，所以大家可以根据自己的需求选择。超声时间一般默认是5分钟。仪器型号 𐟔슥𘂩⤸Š有很多型号的透射电镜，比如日本的JEOLJEM-2100 COOl和日立的HTACHIHT7800(120kV)。不同的仪器有不同的特点和适用范围，大家可以根据自己的需求选择合适的型号。其他测试方法 𐟔犩™䤺†透射电镜，还有很多其他测试方法可以帮你更好地了解材料的性质。比如电感耦合等离子体ICPOES/MS、有机元素分析EA、场发射电子扫描电镜SEM、CNS元素分析仪、电子背散射衍射EBSD、氨基酸分析仪、能量色散X射线光谱EDX、X-射线荧光光谱XRF、电子能量损失谱EELS、离子色谱IC等等。物性分析 𐟓Š 如果你对材料的物理性质感兴趣，还可以进行热学性能测试，比如氩离子抛光、热重分析TG-DTG、球差透射电镜AC-TEM、差示扫描量热仪DSC、原子力显微镜AFM等。声光电磁方面的测试也有不少选择，比如电子自旋共振波谱ESR/EPR、振动样品磁强计VSM、液体/固体核磁共振NMR/SSNMR、荧光类测试、霍尔效应测试Hall等。结语 𐟎“ 总之，透射电镜制样是一门技术活，但只要你掌握了这些基本知识，就能轻松上手。希望这篇文章能帮到你，让你在透射电镜的世界里畅游无阻！如果你有任何问题或想法，欢迎在评论区留言哦！

新能源电池材料磁性异物检测方法详解 𐟔 磁性异物对电池性能的影响磁性异物对锂离子电池的安全性有着重要影响。正负极材料中残留的磁性异物可能会刺穿隔膜，导致短路和自放电现象，严重降低电池的安全性。因此，严格控制正极材料中磁性异物的含量至关重要。 𐟧ꠧて€祼‚物含量测试方法磁性异物含量测试主要针对锂离子电池材料中可被磁铁吸附的磁性杂质，包括铁(Fe)、铬(Cr)、镍(Ni)、锌（Zn）、钴（Co）等元素。方法1⃣：ICP法过程描述：在除铁的环境中，用磁棒吸附样品中的磁性异物，然后将磁性异物分散在水或乙醇介质中，用酸性溶液将样品消解并定容，使用电感耦合等离子体发射光谱仪测定铁、钴、铬、镍、锌含量并计算含有五种元素物质含量的总和。不同材料测试元素和检出限：见图3 结果和结论：各磁性异物元素含量及磁性异物总含量。方法2⃣：扫描电镜法（SEM-EDS）过程描述：针对直径在5及以上的磁性异物，用高磁性磁铁富集提取，吸附后除去物料，然后收集磁性异物，干燥后在扫描电镜-能谱仪上放大至适当的倍率，在背散射信号下观察，测试直径大于5及以上的磁性异物并计数。检出范围：默认测试磁性颗粒物直径≥5；可选尺寸5、10。结果和结论：磁性颗粒物的数量、尺寸和成分。 𐟓Š 经典案例见图4、5（图片版权归科学指南针所有）

石墨烯包覆镍纤维的制备及电性能研究。镍纤维作为一种金属纤维材料，是由金属丝经多次多股拉拔、热处理等特殊工艺制备而成，具有较大长径比，耐腐蚀、导磁、导电等优良性能。利用镍纤维的优点，采用物理化学方法对其包覆改性，制备一种新型的纤维复合材料，进一步扩大镍纤维的应用领域。因镍纤维在水溶液中分散性较差，极大地限制了导电镍纤维作为金属基复合材料的发展。而石墨烯具有较低的密度、坚硬性和优良的导电性等优点。且氧化石墨烯带有亲水基团，在水中的分散性较好。因此在金属镍纤维中引入石墨烯，能降低复合材料的比重，提高复合材料的硬度、耐腐蚀性和导电性，改善复合材料的均匀性。利用傅里叶变换红外光谱仪(FT-IＲ)对氧化石墨烯、石墨烯以及镍纤维被石墨烯包覆前后的官能团进行表征分析。运用扫描电镜(SEM)和能谱仪(EDS)表征样品形貌以及测定元素组成;采用ＲTS-8型四探针电阻率测试仪测量样品电导率。预处理镍纤维、包覆镍纤维(GO-NiF)、氧化石墨烯(GO)和石墨烯(ＲGO)红外光谱图。石墨粉经氧化后合成氧化石墨烯有5个明显的官能团，其中3400cm－1左右有一个较宽的吸收峰是羟基(O—H)。 1712cm－1为羧基上(C—O);1615cm－1和1381cm－1分别是碳碳双键(C—C)和C—OH的伸缩振动峰。 1043cm－1则是由环氧基(C—O—C)的吸收所致。这些特征峰的存在说明石墨已被氧化为GO。被HI还原的石墨烯与GO对比后，尤其3400cm－1、1712cm－1和1043cm－1处吸收峰均有较明显减弱，羟基和羧基以及环氧基。大部分被还原，说明GO已被还原成ＲGO。包覆镍纤维与预处理镍纤维相比有碳碳双键和C—OH，这是由镍纤维包裹一层石墨烯所致。而且从包覆镍纤维与GO的谱图可以看出O—H、C—O、C—OH以及C—O—C等基团有不同程度的削弱，说明GONiF被还原成ＲGO—NiF。未包覆镍纤维表面主要以镍元素为主。包覆后镍纤维表面存在明显的碳原子峰，而镍纤维基体不含碳元素，表明镍纤维表面被包覆了石墨烯。复合材料的电导率随HI用量的增加呈先上升后下降的趋势，当HI用量为30mL时，复合材料的电导率达最大(1．22㗱03S/cm)。当HI用量为10mL时，因还原剂量少，氧化石墨烯还原生成石墨烯的量不足，其电性能也不高。当用量达30mL时，试样包覆层明显，且均匀稳定性，其电导率为最大。继续增加HI用量，35mL时包覆层开裂明显，过量的氢碘酸可能会对镍纤维产生腐蚀破坏，导致电性能下降。复合材料的电导率随还原温度的升高呈先增加后减少的趋势，当还原温度为50℃时，复合材料的导电率达到最大(1．32㗱03S/cm)。当还原温度为40℃时，镍纤维表面未包覆部分较多;当温度达50℃时，石墨烯在镍纤维表面达到最佳包覆程度，试样达到最大电导率。继续升高温度，由于石墨烯在镍纤维表面逐渐达到饱和，导致包覆层团聚严重甚至产生脱落现象，较高的温度可能降低还原剂的作用，不利于将氧化石墨烯还原。从图可以看出，复合材料的电导率整体随还原时间的增加而呈先上升后下降趋势，当还原时间为60min时，复合材料达的电导率达最大(1．46㗱03S/cm。还原时间的延长不利于镍纤维表面包覆层均匀性。在还原时间为40min时，只有少量的石墨烯包覆在镍纤维表面。当时间达到60min时，镍纤维有一层紧致的包覆膜均匀质密，此时达到最大电导率。继续增加时间，因镍纤维表面包覆膜变成片状脱落严重，电性能有所减少。综上所述，镍纤维包覆效果的变化与复合材料电导率的变化趋势一样。复合材料的电导率随GO溶液pH值的增加呈先增大后减小的趋势，当GO溶液pH值为12时，复合材料电导率最大(1．54㗱03S/cm)。 GO表面含有大量羟基、羧基和羰基官能团，所以在水中分散时，其pH值为3～14的zeta电位始终为负值，并且绝对值也越来越高。而在表面活性剂CTAB加入后，GO分散液zeta电位变为正值(Zhangetal．，2010)，导致它们之间有很大的电位差，GO和CTAB产生静电吸附。当pH为14时，石墨烯包覆镍纤维的制备及电性能研究792CTAB和GO的电位差变小，静电吸附力减弱，还原后，镍纤维表面只有少量ＲGO。石墨烯包覆镍纤维的电导率随CTAB浓度的增加而逐渐提高，并在CTAB浓度为1．5mol/L时，达到最大值(1．72㗱03S/cm)。当CTAB浓度继续增加时其电导率迅速降低。当CTAB浓度为1．0mol/L时，修饰剂不足，使得镍纤维表面吸附GO较少，因此其电性能不高。当浓度达到1．5mol/L时，镍纤维与有机黏结剂的结合效率增加(王楠等，2014)，包覆层均匀性最佳。

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